絕緣子元件應承受四個24h 冷卻和加熱循環(huán)，并同時施加拉伸負荷，該負荷的大小保持在所規(guī)定機電或機械破壞負荷的60%-65%之間。每個24h循環(huán)中，首先應進行將其冷卻到一30℃士5C，然后進行將其加熱到+40℃士50C。應控制冷卻和加熱循環(huán)的溫度偏差，以保證記錄的冷卻和加熱溫度之間的***小溫差為70 K。

在溫度循環(huán)中溫度和***低溫度至少均應連續(xù)保持4 h.溫度變化的速度實際上并不重要，它取決于試驗裝置。所有溫度應在其中一個絕緣子的金屬附件上或附近測量。

開 始 第 一次冷熱循環(huán)之前，應在室溫下在絕緣子上施加拉伸負荷。在每次加熱期終結時，*卸除該拉伸負荷，并再重新施加，但***后一次熱循環(huán)除外。在第四次24 h循環(huán)之后，將其冷卻到室溫，除去拉伸負荷。

該試驗程序用圖示法表示見圖1,機 電 破 壞負荷試驗(見第19章)或機械破壞負荷試驗(見第20章)應在從絕緣子元件上卸除拉伸負荷的同一天進行。

注 1: 絕 緣子元件經受冷熱循環(huán)和機械負荷時，它們可以串聯(lián)形式和/或并聯(lián)形式連接在一起.并聯(lián)連接時應對絕緣 子 元 件 施 加 等 量負荷注

 2: 機 械試驗中可拆卸的連接腳不應包括在內，因為它們不是絕緣子的內部結構。例如用于長棒形絕緣子的連接 腳 。